研讨会：

9:00-9:30

签到

9:30-9:45

主题一：泰克公司近期的技术进展和新方案介绍

最近一年是泰克公司的丰收年：从旗舰到主流、从时域到频域、从全新产品到技术升级，有一大批的新产品、新方案问世。本节将简要介绍这些新产品和方案产生的背景、特点和应用目标。

9:45-10:45

主题二：高速系统总线接口及芯片的调试方案

探讨如何通过泰克科技的产品方案进行RF/Power/Analog/digital/Optical的IC的输入输出特性进行功能和性能的调试验证，包括通过数字，模拟，射频调制激励信号的产生，抖动和噪声等压力的注入，从而对芯片的输入容限进行验证，以及IC的射频，模拟，数字信号的输出质量模拟特性验证，数字解调，协议解码和误码分析；时域，频域和调制域的多域分析，以及数字，模拟和射频的多方观测。另外还会涉及各种低速和高速芯片接口标准的一致性测试验证以及芯片内部短路断路虚焊时的非破坏性失效分析方法和案例。

10:45-11:00

茶歇

11:00-12:00

主题三：泰克助您应对电源设计中现在及未来的挑战

电源行业一个即传统又现代的行业，研发工程师不得不应对新技术的快速发展，新标准的严苛考验。近几年六级能效标准的推行，零功耗的要求，电源厂家为了在行业中取得主动权，从低功耗芯片选用到电源整体设计优化投入了大量的精力。如何来对设计中电路问题准确定位，捕获，分析，如何对电源方案进行整体的准确评价，甚至满足电源标准的一致性分析，泰克助您应对电源的现在及未来的挑战！

12:00-13:30

午餐

13:30-14:15

主题四：最新半导体器件测试技术与 Keithley解决方案分享

4200作为可扩展的半导体参数测试设备，涵盖了传统的器件基本特性测试，晶圆测试及参数分析，可靠性测试（WLR），及未来新材料功率器件的几乎所有需求。本节将会从小信号测试的理论入手，总结测试过程中的常见问题及测试技巧，并给出对应的解决方案。

14:15-15:00

主题五：高速串行信号及嵌入式系统先进测试技术

随着电子产品的速度越来越快、复杂程度越来越高，它们设计、检验和调试起来正越来越复杂。设计人员必须全面检验设计，保证产品可靠运行。在发生问题时，设计人员必需迅速了解根本原因，以便解决问题。本讲座将为大家介绍如何使用先进的测试仪器及相应的软件套件简化测试高速串行信号（USB/DDR/LVDS/以太网等），如何提高FPGA，SOC系统测试效率。

15:00-15:15

茶歇

15:15-16:00

主题六：助力中国智造，解决调测、验证、干扰与EMI测试中的射频问题

“中国制造”正走向“中国智造”，“智能制造”是工业转型核心，而工业4.0 与IoT又是智能制造的核心，射频无处不在是中国智造时代最突出的特性。本演讲将从射频调测、射频验证以及干扰与EMI三个方面，阐述中国智造时代射频测试面临的挑战、解决方法以及泰克公司的解决方案。

16:00-16:45

主题七：吉时利经典测试测量和行业解决方案

A GREATER MEASURE OF CONFIDENCE–更自信的测试！本部分讲座将介绍Keithley品牌建立69年以来独一无二的测试产品系列，收集诸多经典的测试测量案例，推出与日新月异的测试需求相结合的行业解决方案。从小信号测量专家到低功耗产品的测量专家，从源表的设计始祖到大规模测试量产的业界翘楚，从单台的测试测量仪表到客制化的行业解决方案，Keithley为客户提供更为便利和自信的测试服务。

16:45-17:00

幸运抽奖

现场参会人员均有机会获得精美礼品，携带名片即可参与抽奖，精美礼品等您来拿！06 09:00