嘉宾介绍

（具体嘉宾信息将逐步更新）

-芯片设计工程师及部门主管

-芯片测试工程师及部门主管

-Verification 及 Qualification 部门工程师

-其他IC业内人士

演讲主题

1.实验室到量产——物联网背景下半导体测试总体成本的优化

2.蓝牙低功耗测试方案及案例

3.基于向量的数字通道板卡使用技巧

4.灵活开发NISMU完成源表测试挑战

Demo演示：

1.PatternBasedDigital+5171FlawDetection

2.BLETestingDemo

活动主办方：美国国家仪器

美国国家仪器，世界上最大领先的硬件电子测试测量仪器公司。提供丰富的工具软件，如LabVIEW，AWR，以及高性价比的模块化硬件，覆盖IC从研发到量产的全产业链测试与仿真需求。40多年来，美国国家仪器公司(NI)帮助测试、控制、设计领域的工程师与科学家解决了从设计、原型到发布过程中所遇到的种种挑战，提供大量的软件，硬件，覆盖IC全产业链测试与仿真需求。在缩短产品问世时间的同时有效降低开发成本。如今，NI为遍布全球各地的35,000家不同的客户提供多种应用选择，在RF芯片设计和测试方面具有丰富的经验和专业知识。

联合主办：

活动详情

【时间】：2016年11月24日，13:00-17:30

【地点】：上海浦东新区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡，近地铁2号线张江高科站5号口（祖冲之路松涛路）

【路线】：地铁2号线5号口出，穿过“黑暗料理小吃”，传奇广场坐电梯到3楼即达（交通银行和中国银行之间）；自驾，松涛路路口进，1楼三和面馆旁电梯上

【费用】：免费（提供茶歇）

【报名】：点击下方"阅读原文"即可参与报名

注：活动限半导体行业相关工作人员参加（限额80人），因主办方将进行人员筛选，请认真填写报名信息，信息填写不完整及行业属性不相关者，不在邀请范围内，请悉知。入场请出示通知短信并携带名片。

附：IC咖啡近期活动一览（猛戳我！）

IC CHINA 2016.11.8-11.10 -- IC咖啡展会现场沙龙活动预告(附赠免费门票及现场咖啡兑换券）

11月10日 南京丨MIT先进科技对话系列之集成电路专场

11月17日 上海丨加密工程： 在硬件和嵌入式软件中植入高速和安全的加密系统

11月19日 上海丨第八届IC测试技术研讨会火热报名中

11月24日 上海丨美国国家仪器NI半导体系列上海研讨会(II)

12月02日 北京丨全球传感器与智能化发展高峰论坛 · 邀请函