日本罗姆公司面向赛车领域推进全碳化硅模块布局

分享到:

早在Formula E上一赛季,日本罗姆半导体公司(ROHM semiconductor)就已经与法国Venturi车队达成合作协议,面向赛事车辆提供整合碳化硅器件的功率模块。日前,由ROHM提供的全碳化硅逆变器在保持性能不变的前提下已经实现了体积减小43%,重量降低6公斤的大幅度提升。

背景

去年4月,日本罗姆半导体公司就已经在PCIM 2016大会中推出了第三代650V碳化硅肖特基二极管(SiC SBD)以及1200V/180A全碳化硅功率模块。相比第一代产品,第三代模块基于最新的UMOS结构其整体开关损失降低了77%。

1

而作为法国Venturi车队的技术合作方,在第三赛季时,罗姆向其提供了更加轻便(相比上一代降低2公斤重量)、更加高效(电子转换效率提升1.7%)的第二代碳化硅逆变器,其整合了SiC SBD器件。

2

最新进展

相比上一代的微小提升,这次的变化更为明显。整体采用了SiC MOSFET和SiC SBD的双SiC设计,使得体积进一步缩小30%,重量控制在了9公斤,直接减轻了4公斤。

3

全碳化硅模块

4

时任罗姆功率器件产品部门经理的 Kazuhide Ino先生认为半导体器件是混合以及电动汽车的关键技术,最新一代全碳化硅模块整合了SiC SBD和SiC MOSFET,这种技术能够大幅的提升车辆性能。同时针对车辆重新设计了逆变器的结构,改善了散热性能。对于传统的硅材料IGBT器件,在150度的工作环境下,同时还能大幅降低开关损耗。

继续阅读
锂电池内阻揭秘:技术原理深度解析

锂电池的内阻是影响其性能和使用寿命的关键因素,通过IMP内阻技术可以精确测量。该技术基于充放电过程中的电压和电流变化关系推算内阻,并考虑温度、充放电状态等因素。电池的结构设计、原材料性能、制程工艺以及工作环境和使用条件均会影响锂电池内阻。极耳布局、隔膜结构、电极材料性能、制程工艺控制精度以及温度等因素共同决定了内阻的大小。

IGBT米勒效应:成因与影响缓解策略探讨

IGBT米勒效应是IGBT在工作时因内部电容效应导致输入端信号变化影响输出端电压和电流的特殊现象。它揭示了IGBT内部结构与外部电路间的相互作用,影响器件性能。为降低米勒效应,可选择合适晶体管和阈值设置,优化电路布局,采用负门极驱动方式或高频变换器技术。米勒效应对IGBT的放大倍数有显著影响,需在设计和分析中充分考虑。

锂电池隔膜击穿:原因与影响因素全解析

锂电池隔膜击穿电压是电池安全性的关键指标,涉及隔膜材料、厚度、孔隙率及制作工艺等因素。优质的隔膜应具有高绝缘性能和机械强度,能承受大电场强度而不被击穿。在实际应用中,需严格测试和控制隔膜击穿电压,通过优化设计和工艺提升电池安全性。

【技术干货】提升能源利用效率的住宅储能解决方案

电池储能(ESS)解决方案除了应用于工业、发电之外,在家庭住宅部分,也成为当前应用与市场发展的关键。住宅的ESS解决方案所需的功率较小,但对转换效率与安全性的要求,仍与工业应用相同。本文将为您介绍住宅ESS解决方案的市场趋势,以及艾睿电子与Rohm推出的SiC相关解决方案的功能特性。

智能传感器:政策助力,未来发展方向揭秘

智能停车位传感器正持续追求高精度与高稳定性,通过技术升级和先进材料应用实现更精准的停车位检测和更稳定的信号传输。未来发展方向包括多功能集成化、无线化与网络化、智能化与自适应性,以及绿色化与环保性。